设为首页收藏本站

开启辅助访问钱包

摄像头模组论坛技术研发网-camera摄像头ccm论坛 › 首页 › 资讯 › 查看内容

相关分类 :资讯/

分享交流：关于如何解决工业缺陷检测小样本问题的一些思考与探索 (待审核)

2022-5-27 15:32/ 发布者: | 查看: 129/ 评论: 0 /原作者: 吴雨培 /编辑 /删除

摘要吴雨培老师将从解决工业检测小样本问题的两种路径：工程路径和算法路径，为大家详细讲解，也希望可以和有志于研究工业AI检测问题的工业人一起交流进步，推动小样本问题的彻底解决。

分享到：

收藏分享邀请编辑| 添加相关文章| 删除 |

上一篇：TDK-VCM音圈马达 下一篇：1111

最新评论

在线客服

在线客服

服务时间 9:00—18:00

客服电话

欢迎来电咨询

188-9985 8350

发布信息

发布信息

版块

版块

微信关注

手机APP程序：
扫码下载访问

微信公众平台：
摄像头之家公众号

微信小程序：
摄像头小程序

联系我们

返回顶部

|站点统计|小黑屋|手机版|Archiver|摄像头模组论坛网 ( 粤ICP备18155214号 )

Powered by Discuz! X3.4 Licensed© 2001-2013 Comsenz Inc.